還不知道掃碼電子顯微鏡的工作模式？進來看

 　　掃碼電子顯微鏡是一種具有原子級別高分辨率的新型表面分析儀器，它不但能像掃描隧道顯微鏡那樣觀察導體和半導體材料的表面現象，而且能用來觀察諸如玻璃、陶瓷等非導體表面的微觀結構，它還可以在氣體、水和油中無損傷地直接觀察物體，大大地拓展了顯微技術在生命科學、物理、化學、材料科學和表面科學等領域中的應用，具有廣闊的應用前景。

 

　　掃碼電子顯微鏡針尖和樣品之間的力F與微懸臂的形變Δz之間遵循胡克定律F=kΔz，其中，k為微懸臂的力常數。測定微懸臂形變量的大小，就可以獲得針尖與樣品之間作用力的大小。針尖與樣品之間的作用力與距離有著強烈的依賴關系，所以在掃描過程中利用反饋回路保持針尖和樣品之間的作用力恒定，即保持微懸臂的形變量不變，針尖就會隨表面的起伏上下移動。記錄針尖上下運動的軌跡即可得到樣品表面形貌的信息。這種檢測方式被稱為“恒力”模式，是掃碼電子顯微鏡使用Z廣泛的掃描方式。

 

　　圖像也可以使用“恒高”模式來獲得，也就是在x、y掃描過程中，不使用反饋回路，保持針尖與參考水平面之間的距離恒定，檢測器直接測量微懸臂方向的形變量來成像。這種方式由于不使用反饋回路，可以采用更高的掃描速度，通常在觀察原子、分子像時用得比較多，而對于表面起伏較大的樣品不適合。

 

　　對于掃碼電子顯微鏡，通用的工作模式有接觸和敲擊式。在敲擊模式中，一種恒定的驅使力使探針懸臂以一定的頻率振動。當針尖剛接觸樣品時，懸臂振幅會減少到某一數值。在掃描過程中，反饋回路維持懸臂振幅在這一數值恒定，亦即作用在樣品上的力恒定，通過記錄壓電陶瓷管的移動得到樣品表面形貌圖。對于接觸模式，由于探針和樣品間的相互作用力會引起微懸臂發生形變，也就是說微懸臂的形變作為樣品和針尖相互作用力的直接度量。同上述輕敲式，反饋系統保持針尖-樣品作用力恒定從而得到表面形貌圖。